ICP-OES MICS DV电感耦合等离子体发射光谱仪

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产品概述
PRODUCT OVERVIEW

电感耦合等离子体发射光谱仪是目前实验室无机元素分析的主流手段,具有测试元素 多、测试速度快、检出下限低、测量范围宽等特点,可广泛应用于环境保护、地质矿产、有 色金属、石油化工、新能源新材料、高纯物质、玩具消费品、食品化妆品等众多领域,产品 检测方法多为国家标准及行业标准认可的测试方法。

技术参数

TECHNICAL PARAMETER



雾化器:高效同心雾化器

雾室:雾室为旋流型雾室

炬管:配备电感线圈为3匝的垂直放置的一体式炬管

蠕动泵:配备5通道16滚轴蠕动泵,分别用于样品、废液、内标或稀释剂、氢化物发生器等辅助试剂,泵速连续可调,具有快速清洗功能;蠕动泵滚轮采用非金属耐腐蚀材料。

气路:气路部分均采用流量计控制,流量连续可调;同时可扩展氧气辅助有机进样系统,防止碳沉积;可扩展Ar,实现氩气加湿功能,氩气消耗量:8L/min~18L/min;冷却气:0.00L/min~20.00L/min,精度0.01L/min;辅助气:0.00L/min~2.00L/min,精度0.01L/min;载气:0.00L/min~2.00L/min,精度0.01L/min

具有固态光源技术,频率27.12MHz,它激式全固态RF发生器,功率500~1600W步进1W连续可调,耦合效率>85%,功率稳定性≤0.01%,RF频率稳定性:≤0.01%;一键式点火、熄火操作;电磁场泄露辐射强度:<0.5V/m。

等离子体源具备冷锥消除尾焰技术,无需配置空气压缩机进行尾焰切割,可最大程度地降低自吸效应和电离干扰。

等离子体源具有低功率待机模式,待机时降低输出功率,减小气体流量,仅维持等离子体运行。

垂直炬管,双向观测;径向观测与轴向观测设计,可适应亚ppm到高含量的元素测量。

光栅:中阶梯光栅,52.67g/mm,闪耀角63.5°

棱镜:采用超纯CaF2材料

分析谱线范围:165nm~950nm

焦距:400mm

分辨率:≤0.007nm@200nm

杂散光:10000μg/ml的Ca溶液在As189.042nm处的等效背景浓度<2ug/ml

光室恒温:高精度恒温38℃(±0.1℃)

光室充气:多点充气技术,小流量吹扫1L/min,大流量吹扫4L/min;无需使用真空泵,可避免真空返油从而污染光室。

只需要使用背景光谱即可完成谱线飘移校准,无需额外的氖灯、汞灯等光源设备。

采用半导体制冷的大面积背照式CCD检测器,能任意选择波长,全谱段响应,且具有防溢出功能设计。

检测器表面无任何光转换化学涂膜,不会因为涂层老化而导致检测器损坏更换;量子化效率≥75%。

检测单元:像面尺寸:25.4mm×25.4mm;CCD像素:1024×1024;单像素面积:24μm ×24μm;一次曝光可完成全谱光谱信号的采集读取。

冷却系统:三级半导体制冷,制冷温度:≤-45℃,稳定时间<3分钟

智能化积分设计:针对低含量的元素和高含量元素智能调整积分时间,拓宽动态范围,使高低含量元素可以同时检测,避免试样反复稀释。

分析软件:全中文界面,支持中、英、俄等多种语言,针对分析应用优化的软件系统。具有定性、半定量、定量等分析功能。

多窗口多方法分析程序,可同时测量、编辑、查看不同的方法数据。

软件谱线库:≥7万谱线库,智能提示潜在干扰元素,帮助使用者合理选择分析谱线

软件提供多样化的标准系列编辑模式,支持先测试后设置标准、“三明治”方法测试样品等多种曲线校准模式。

软件支持标准曲线法、标准加入法等分析方法,具有扣除空白、内标校正、IEC干扰校正等多种数据处理方法。

具有多种报表输出格式。

具有仪器校准功能,支持光源优化等功能。

具有登录口令保护功能。

仪器性能要求:短期稳定性:RSD≤0.5%;长期稳定性:RSD≤1.0%。



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