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高压产生特征与连续X射线谱
发布时间：2019-11-15 09:48:15 点击：4388
连续X射线谱
X射线光管利用由高压产生的X射线束作为激发源。高能入射粒子或电子与靶元素中束缚力较弱的电子发生随机碰撞后，电子减速，功能损失，损失的能量将以光子发射的形式出现，从而产生连续的X射线谱，称为韧致辐射。
XRF是一项非破坏性的元素定性和定量分析的技术，其原理是根据被入射X光提升到激发态的样品，在回复到基态时，所放射的X光荧光，具有因元素种类和含量不同而有不同的波长X光射线的特性。当X光照射样品时，有两种主要的现象发生，即：散射现象（Scattering）和光电吸收（Photoelectric Absorption）。
高压产生特征与连续X射线谱
特征X射线谱
产生特征X射线所需要的最小能量等于相应壳层电子的结合能，也称为吸收边能量，只有当光管超出临界激发电压的状态下，靶的特征线才会出现。
电压太高时，电子穿透深度过大，靶材的自吸收将会变得十分显著。故而只有当光管电压等于临界激发电压的3-5倍时，可得到最佳的特征谱线强度。这对于选择靶线激发轻元素分析具有指导意义。
X射线谱由连续谱和标识谱两部分组成，标识谱重叠在连续谱背景上，连续谱是由于高速电子受靶极阻挡而产生的轫致辐射，其短波极限λ0由加速电压V决定：λ 0 = hc /( ev )为普朗克常数，e为电子电量，c为真空中的光速。标识谱是由一系列线状谱组成，它们是因靶元素内层电子的跃迁而产生，每种元素各有一套特定的标识谱，反映了原子壳层结构 的特征。同步辐射源可产生高强度的连续谱X射线，现已成为重要的X射线源。
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